德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對(duì)比
菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業(yè)內(nèi)的標(biāo)桿產(chǎn)品，在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽(yù)。FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀，配備可編程運(yùn)行XY工作臺(tái)及Z軸升降系統(tǒng)，全自動(dòng)測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。兩者主要電器參數(shù)對(duì)比如下表：
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機(jī)型 Model
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237
X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD
X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀
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備注 Remark
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測量元素范圍 Element Range
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Cl（17）-U（92）
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Al（13）-U（92）
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XDAL237 SDD的測量元素范圍更大，可以測P磷等元素
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分析軟件 Software
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WinFTM(V6 LIGHT) 可*多同時(shí)測量4層鍍層，5種元素，在選配BASIC時(shí)可測23層鍍層，24種元素
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WinFTM(V6 BASIC) 可*多同時(shí)測量23層鍍層，24種元素
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XDLM237的主要應(yīng)用為鍍層厚度的測量，XDAL237SDD不但在測厚方面更具優(yōu)勢，可測量納米級(jí)鍍層；并且可以做精-確的材料分析以及RoHs痕量分析。XDAL237 SDD 標(biāo)配 Basic版軟件
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X射線發(fā)生裝置 X-Ray Tube
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W靶微聚焦射線管
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W靶微聚焦射線管
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高壓 High voltage
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三種可調(diào)高壓：30 kV，40
kV，50 kV
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三種可調(diào)高壓：10 kV，30
kV，50 kV
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10kV的電壓可用于測量能量更低的元素（例如：P磷等）
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準(zhǔn)直器 Aperture (Collimator)
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4個(gè)可切換準(zhǔn)直器（?0.1/?0.2/0.05x0.05/0.2x0.03mm）
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4個(gè)可切換準(zhǔn)直器（?0.1/?0.3/?0.6/?0.5*0.15mm)
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XDAL237配備了更大的0.6mm準(zhǔn)直器，使得測量大樣品和RoHS的應(yīng)用時(shí)，大大提高精度。
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測量點(diǎn)大小 Measurement spot size
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約 ? 0.1 mm
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約 ? 0.15 mm
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X射線接收器 X-ray detector
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比例接收器 FWHM≤900eV
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硅漂移SDD半導(dǎo)體探測器 FWHM≤160eV
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XDAL237 SDD配備*的SDD硅漂移接收器，有更高的能量分辨率。頻譜上相鄰元素之間干擾更小，精度更高。并且可進(jìn)行痕量分析（可滿足RoHS的應(yīng)用）。
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濾波片 Primary filter
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3 種可切換濾片 (鎳/鋁/無）
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3 種可切換濾片 (鎳/鋁/無）
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放大倍數(shù) Zoom factor
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40X-160X
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40X-160X
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樣品臺(tái)尺寸 Usable sample placement area
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300 × 350 mm
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300 × 350 mm
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移動(dòng)方式 Travel Mode
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電動(dòng)可編程
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電動(dòng)可編程
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可移動(dòng)范圍 Maximum travel XY
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255*235mm
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255*235mm
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Z軸 Z-axis
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可編程運(yùn)行 Programmable
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可編程運(yùn)行 Programmable
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隨機(jī)元素片 Pure Element
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12純元素片：(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr) 12 Pure Element
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14純元素片：(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr，Ti，S) 14 Pure Element
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以上德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對(duì)比表中紅色字體為差異體現(xiàn)。XDLM237機(jī)型雖然在性能上與XDAL237SDD有不及的地方，但因其相對(duì)低廉的價(jià)格和同樣不俗的性能使得XDLM237成為菲希爾x射線材料厚度分析儀中的主流暢銷機(jī)型。
其他檢測儀器：超聲高溫耦合劑、鐵素體含量檢測儀。
